[发明专利]一种圆片级封装结构以及制造方法在审
申请号: | 201710374164.4 | 申请日: | 2017-05-24 |
公开(公告)号: | CN107244647A | 公开(公告)日: | 2017-10-13 |
发明(设计)人: | 胡小东;杨志;胥超;张丹青 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
主分类号: | B81B7/00 | 分类号: | B81B7/00;B81C1/00 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所13120 | 代理人: | 林艳艳 |
地址: | 050051 *** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了一种圆片级封装结构以及制造方法,涉及微电子机械系统与圆片级封装技术领域;包括第一圆片和第二圆片,第一圆片和第二圆片通过键合区键合,第一圆片上设有空腔;第一圆片上设有与每个空腔都相连通的若干个排气通孔,排气通孔端部设有自封闭结构,自封闭结构不堵塞排气通孔;方法简单,空腔上设置排气通孔,利用排气通孔将空腔内的气体分子迅速排出,使空腔内的真空达到或接近键合设备腔室的真空,键合完毕后能将排气通孔封闭形成真空的空腔。 | ||
搜索关键词: | 一种 圆片级 封装 结构 以及 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种圆片级封装结构,其包括第一圆片(1)和第二圆片(2),第一圆片(1)和第二圆片(2)通过键合区(4)键合,第一圆片(1)上设有空腔(3),第二圆片(2)上设有待封装器件;其特征在于:所述第一圆片(1)上设有与空腔(3)相连通的排气通孔(5),排气通孔(5)端部设有自封闭结构(6)。
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