[发明专利]一种发光二极管外延片的制造方法有效

专利信息
申请号: 201710334928.7 申请日: 2017-05-12
公开(公告)号: CN107331738B 公开(公告)日: 2019-12-06
发明(设计)人: 金雅馨;万林;胡加辉 申请(专利权)人: 华灿光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/06
代理公司: 11138 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 代理人: 徐立<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 430223 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种发光二极管外延片的制造方法,属于半导体技术领域。包括:提供一衬底;在衬底上依次生长缓冲层、成核层、未掺杂氮化镓层、低温改善层、第一N型氮化镓层、多量子阱层和P型氮化镓层;其中,低温改善层为未掺杂的AlxGa1‑xN层,0≤x≤1,且低温改善层的生长温度为500~750℃。本发明通过在未掺杂氮化镓层上低温(500~750℃)生长未掺杂的AlxGa1‑xN层,0≤x≤1,AlxGa1‑xN层的生长温度较低,质量较差,打乱了外延片中晶体的生长方向,从原本单一地沿着晶格的方向变成杂乱无章,进而改变了晶格失配和热失配产生的应力的方向,使得应力得到有效释放,外延片发光波长的均匀性提高。
搜索关键词: 一种 发光二极管 外延 制造 方法
【主权项】:
1.一种发光二极管外延片的制造方法,其特征在于,所述制造方法包括:/n提供一衬底;/n在所述衬底上依次生长缓冲层、成核层、未掺杂氮化镓层、第二N型氮化镓层、低温改善层、第一N型氮化镓层、多量子阱层和P型氮化镓层;/n其中,所述缓冲层为二维生长的氮化镓层,所述低温改善层为未掺杂的GaN层,且所述低温改善层的生长温度为500~750℃,所述缓冲层的生长温度与所述低温改善层的生长温度相同,所述低温改善层的厚度为50~200埃。/n
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