[发明专利]修复控制器件及包括其的半导体器件有效
| 申请号： | 201710307834.0 | 申请日： | 2017-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN108074620B | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 李雪熙;李康说 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 任静;许伟群 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于被划分为多个存储体的存储单元的修复控制器件可以包括：故障地址储存电路，其被配置为根据故障行地址对多个故障地址进行分类和储存，每个故障地址包含故障存储体地址和故障行地址，以及通过将故障行地址与表示由该故障行地址指示的一个或更多个故障存储体的全部故障存储体信息进行匹配来储存该故障行地址。修复控制器件还包括地址比较电路，其被配置为将输入地址与储存在故障地址储存电路中的包括故障行地址与全部故障存储体信息的对进行比较，以及基于比较结果来产生命中信号。修复控制器件还包括地址发生电路，其被配置为基于命中信号来产生访问目标地址。 | ||
| 搜索关键词： | 修复 控制 器件 包括 半导体器件 | ||
【主权项】：
1.一种用于被划分为多个存储体的存储单元的修复控制器件，包括：故障地址储存电路，其被配置为根据故障行地址对多个故障地址进行分类和储存，每个故障地址包含故障存储体地址和故障行地址，以及通过将故障行地址与表示由所述故障行地址指示的一个或更多个故障存储体的全部故障存储体信息进行匹配来储存所述故障行地址；地址比较电路，其被配置为将输入地址与储存在故障地址储存电路中的包括故障行地址与全部故障存储体信息的对进行比较，以及基于比较结果来产生命中信号；以及地址发生电路，其被配置为基于命中信号来产生访问目标地址。
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