[发明专利]使用波长偏移光纤耦合闪烁检测器进行X射线检查在审
| 申请号： | 201710257152.3 | 申请日： | 2013-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN107193034A | 公开（公告）日： | 2017-09-22 |
| 发明（设计）人： | A.阿罗德泽罗;J.卡勒拉梅;D-C.丁卡;R.苏德;L.格洛德津斯;M.罗梅尔;P.罗斯希尔德;J.舒伯特 | 申请（专利权）人： | 美国科技工程公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20;G01T3/06;G01T5/08 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 高巍 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种在通过将波长偏移光纤耦接到一个或多个光电检测器的闪烁体的基础上，通过对光电检测器信号的时间整合，来检查材料的检测器和方法。闪烁介质的非像素化空间将入射的穿透辐射的能量转换成闪烁光，该闪烁光是从闪烁光发出区域由多个光波导发出的。这种几何形状提供了高效且体积小的检测器，实现了以往无法实现的用于对入射辐射进行反向散射检测和能量辨别的几何形状。可使用额外的能量分辨传输配置并可作为倾斜和失准的补偿。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 波长 偏移 光纤 耦合 闪烁 检测器 进行 射线 检查 | ||
【主权项】：
一种用于检测散射x射线辐射的方法，所述方法包括：a.提供检测器，该检测器的特征在于具有多个独立读出分段；以及b.对来自所述独立读出分段的子集的信号求和，其中，所述子集在相对信噪比的基础上被选定。
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