[发明专利]阵列基板测试电路和阵列基板有效
| 申请号： | 201710241348.3 | 申请日： | 2017-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN106847145B | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 侯鹏飞 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种阵列基板测试电路，包括测试单元和多个切换控制单元，所述测试单元包括源极信号源、多个第一开关单元和与所述多个第一开关单元一一对应对应的多个子像素，每个所述子像素经一所述第一开关单元连接至所述源极信号源，所述源极信号源与所述多个切换控制单元沿第一方向排布，所述多个切换控制单元、所述多个第一开关单元一一对应，所述切换控制单元控制对应的第一开关单元导通，以使得源极信号传输至对应的所述子像素。该测试电路的排布可以充分利用阵列基板的长度方向的空间，从而可以节省，从而该测试电路可以适应窄边框阵列基板的设计要求。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 电路 | ||
【主权项】：
一种阵列基板测试电路，其特征在于，包括测试单元和多个切换控制单元，所述测试单元包括源极信号源、多个第一开关单元和与所述多个第一开关单元一一对应对应的多个子像素，每个所述子像素经一所述第一开关单元连接至所述源极信号源，所述源极信号源与所述多个切换控制单元沿第一方向排布，所述多个切换控制单元、所述多个第一开关单元一一对应，所述切换控制单元控制对应的第一开关单元导通，以使得源极信号传输至对应的所述子像素。
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