[发明专利]用于确定辐射图的系统和方法有效
申请号: | 201710223458.7 | 申请日: | 2017-03-31 |
公开(公告)号: | CN107677895B | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 亚当·坦基伦;亨德里克·巴特科;科比特·罗威尔 | 申请(专利权)人: | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 曾贤伟;许静 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种用于确定辐射图的系统和方法。一种用于基于被提供的测试信号来确定包含多个天线元件的天线阵列的辐射图的系统,该系统包括多个探针,该多个探针用于在第一表面和第二表面中测量利用测试信号驱动天线元件时由天线元件所发射的信号的幅度,或用于将测试信号从第一表面和第二表面发射至天线元件,其中探针发射测试信号的情况下,天线元件接收由探针发射的信号并提供相应的测量到的幅度,其中第一表面到天线元件的第一距离小于第二表面到天线元件的第二距离;以及图计算单元,其用于基于所测量的幅度来计算天线阵列的辐射图。 | ||
搜索关键词: | 用于 确定 辐射 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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