[发明专利]一种致密砂岩气成藏概率的确定方法和装置有效
| 申请号： | 201710196591.8 | 申请日： | 2017-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN106991279B | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | 庞雄奇;邵新荷;李倩文;沈卫兵 | 申请（专利权）人： | 中国石油大学(北京) |
| 主分类号： | G06F17/18 | 分类号： | G06F17/18 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 102249*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种致密砂岩气成藏概率的确定方法和装置，其中，该方法包括：根据待测储层沉积相分布数据，确定第一成藏概率；基于待测储层中气层转为干层时的孔隙度临界值与深度的关系，确定第二成藏概率；利用待测储层与烃源岩的垂向距离，确定第三成藏概率；基于待测储层中盖层的分布，确定第四成藏概率；根据第一成藏概率、第二成藏概率、第三成藏概率、第四成藏概率，计算得到待测储层成藏的概率。在本发明实施例中，由于沉积相、界面势能、烃源岩以及盖层是控制致密砂岩气藏分布发育的重要地质要素，可以根据四种情况下的成藏概率综合计算待测储层成藏的概率，为发育条件复杂的致密砂岩气成藏概率的定量预测提供了新方法，提高了勘探效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 致密 砂岩 气成藏 概率 确定 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种致密砂岩气成藏概率的确定方法，其特征在于，包括：根据待测储层沉积相分布数据，确定表征所述待测储层物性特征的第一成藏概率；包括：获取所述待测储层沉积相中发育的气层个数；获取所述待测储层沉积相中发育的干层个数；计算所述气层个数和所述干层个数的和，将所述个数的和作为所述待测储层沉积相中发育的气干层总个数；计算所述气层个数和所述气干层总个数的比值，并将所述比值作为所述第一成藏概率；基于所述待测储层中气层转为干层时的孔隙度临界值与所述待测储层深度的关系，确定表征所述待测储层界面势能的第二成藏概率；利用所述待测储层与烃源岩的垂向距离，确定表征所述待测储层成因的第三成藏概率；基于所述待测储层中盖层的分布，确定表征所述待测储层保存条件的第四成藏概率；根据所述第一成藏概率、所述第二成藏概率、所述第三成藏概率、所述第四成藏概率，计算得到所述待测储层成藏的概率。
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