[发明专利]一种提高星载双站差分InSAR提取形变精度的方法有效

专利信息
申请号: 201710187861.9 申请日: 2017-03-27
公开(公告)号: CN107037428B 公开(公告)日: 2019-11-12
发明(设计)人: 刘广;张露;闫世勇 申请(专利权)人: 中国科学院遥感与数字地球研究所
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309 代理人: 陈霁
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种提高星载双站差分InSAR提取形变精度的方法,本发明针对现有的星载双站差分InSAR形变监测没有对应相位模型的问题,建立了星载双站差分InSAR相位模型,并在此基础上建立了利用星载双站差分干涉相位获得地表高程向形变的方法。本发明相对于现有的星载双站差分InSAR的优势在于:通过星载双站差分InSAR相位模型得到空变的星载双站差分InSAR相位与地表形变之间的变换因子,提高了形变区域形变量估计的准确度。本发明监测效率高、实施方便、结果直观明了,在冰川变化、矿区沉降等大面积形变区域的地表形变监测应用领域具有实用价值和广阔的应用前景。
搜索关键词: 一种 提高 星载双站差分 insar 提取 形变 精度 方法
【主权项】:
1.一种提高星载双站差分InSAR提取形变精度的方法,其特征在于:基于星载双站差分InSAR相位模型,通过计算空变的双站差分InSAR相位与地表高程向形变之间的变换因子,获得地表高程向形变,该方法具体步骤如下:步骤1:建立双站差分InSAR相位模型为:其中φdint(i,j)是位于图像第i行第j列的双站差分InSAR相位值,λ为SAR传感器的波长,B(i)是第i行的干涉基线长度,α(i)是第i行的干涉基线相对水平面的夹角度数,θ(i,j)是图像第i行第j列像元所对应的WGS84椭球上位置点的入射角度,r(j)是图像第j列像元所对应斜距大小,H(i,j)是图像第i行第j列像元所对应SAR图像获取时间的高程值,DEM(i,j)是图像第i行第j列像元所对应外部地形数据获取时间的高程值;步骤2:基于SAR卫星轨道数据和SAR传感器的成像几何,逐像元计算空变的双站差分InSAR相位与地表高程向形变之间的变换因子;所述变换因子的计算公式为:步骤3:对步骤1中获得的双站差分InSAR相位φdint(i,j)进行解缠得解缠相位并逐像元计算图像各像元对应的地表高程向形变大小:其中为解缠相位,如果双站差分InSAR相位位于(‑π,π]之间,没有缠绕则不需要解缠。
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