[发明专利]辐射抗扰度多信号源测量系统及方法在审

专利信息
申请号: 201710181538.0 申请日: 2017-03-23
公开(公告)号: CN107102216A 公开(公告)日: 2017-08-29
发明(设计)人: 张志华;吕文晶;于海生;闫冉 申请(专利权)人: 北京中科国技信息系统有限公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 代理人: 韩建伟,张永明
地址: 100097 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种辐射抗扰度多信号源测量系统及方法。其中,该系统包括信号发生器,用于提供输入信号,其中,信号发生器包括至少两个信号源;信号处理装置,与信号发生器连接,用于对输入信号进行处理;天线,与信号处理装置连接,用于发射处理后的输入信号;信号检测仪器,分别与待测设备、信号发生器和信号处理装置连接,用于校准输入信号和待测设备的辐射抗扰度与场均匀性;外接设备,分别与信号检测仪器和信号发生器连接,用于获取信号检测仪器的检测参数,以及设置信号发生器的输入信号的信号参数。本发明解决了由于现有技术中在对待测设备需花费长时间的测试,导致的测试效率低的技术问题。
搜索关键词: 辐射 抗扰度多 信号源 测量 系统 方法
【主权项】:
一种辐射抗扰度多信号源测量系统,其特征在于,包括:天线、待测设备、信号发生器、信号处理装置、信号检测仪器和外接设备,其中,所述信号发生器,用于提供输入信号,其中,所述信号发生器包括:至少两个信号源;所述至少两个信号源,用于产生调频、调幅、调相或脉冲调制的调制信号;所述信号处理装置,与所述信号发生器连接,用于对所述输入信号进行处理;所述天线,与所述信号处理装置连接,用于发射处理后的所述输入信号;所述信号检测仪器,分别与所述待测设备、所述信号发生器和所述信号处理装置连接,用于校准所述输入信号和所述待测设备的辐射抗扰度与场均匀性;所述外接设备,分别与所述信号检测仪器和所述信号发生器连接,用于获取所述信号检测仪器的检测参数,以及设置所述信号发生器的所述输入信号的信号参数。
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