[发明专利]一种适用于化合物分子基团或共混物组分比例的定量分析方法有效
申请号: | 201710170671.6 | 申请日: | 2017-03-21 |
公开(公告)号: | CN106841272B | 公开(公告)日: | 2019-02-05 |
发明(设计)人: | 舒婕;顾佳丽;张田田;余磊 | 申请(专利权)人: | 苏州大学 |
主分类号: | G01N24/08 | 分类号: | G01N24/08 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 常亮 |
地址: | 215123 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种定量分析方法,包括:A)采集一张交叉极化接触时间为τ的rCP谱图和两张接触时间分别为0和τ的rCDPz谱图,分别对三张谱图进行傅里叶变换、相位矫正和基线矫正,并对三张谱图的13C谱峰进行积分,得到IrCP(τ)、IrCDPz(0)和IrCDPz(τ);B)根据公式rCDPz(τ)=IrCDPz(τ)/IrCDPz(0)、rCP(τ)+rCDPz(τ)=1与IrQCPzS=IrCP(τ)/rCP(τ),最终得到交叉极化谱峰的定量积分值IrQCPzS。本申请提供的方法可以省时准确的检测出C‑H系、C‑F系、Si‑H系或Si‑F系有机物中基团的比例或上述系列有机物共混物中组分的比例关系。 | ||
搜索关键词: | 一种 适用于 化合物 分子 基团 共混物 组分 比例 定量分析 方法 | ||
【主权项】:
1.一种适用于化合物分子基团或共混物组分比例的定量分析方法,包括以下步骤:A),将样品放置于固体核磁共振波谱仪中,采集一张样品S基团的交叉极化接触时间为τ的rCP谱图和两张交叉极化接触时间分别为0和τ的rCDPz谱图,分别对三张谱图均进行傅里叶变换、相位矫正和基线矫正,并对三张谱图的S基团谱峰进行积分,得到S基团的IrCP(τ)、IrCDPz(0)和IrCDPz(τ);所述固体核磁共振波谱仪检测的原子核包括29Si‑1H、13C‑1H、13C‑19F或29Si‑19F;B),根据公式rCDPz(τ)=IrCDPz(τ)/IrCDPz(0),得到S基团的交叉去极化效率rCDPz(τ);根据公式rCP(τ)+rCDPz(τ)=1,得到S基团的交叉极化效率rCP(τ);C),根据公式IrQCPzS=IrCP(τ)/rCP(τ),得到S基团的交叉极化谱峰的定量积分值IrQCPzS,得到化合物中分子基团或共混物组分的比例;所述S基团为13C或29Si;所述rCP谱图的交叉极化脉冲为ramp形状脉冲,所述rCDPz谱图的脉冲序列的两次交叉极化过程之间S通道上为两个时间间隔为td的90度脉冲,且交叉极化脉冲为ramp形状脉冲。
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