[发明专利]一种连续并行序列检测方法有效

专利信息
申请号: 201710169563.7 申请日: 2017-03-21
公开(公告)号: CN106980592B 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: 宁宁;王建东;王岑 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G06F13/42 分类号: G06F13/42
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 闫树平
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及数字信号处理领域的序列检测技术,尤其涉及一种连续的并行序列检测方法。本发明通过在数据发送端后设置多级寄存器组暂存数据。使用最末级寄存器组的每一位作为每一个数据检测组的最高位,以形成多组与目标序列位宽相同的数据检测组。然后比较各个数据检测组与目标序列是否相同,若相同,则表示检测成功;若不相同,则使用新数据重新进行检测。本发明技术不需对并行数据做并‑串转换操作,特别针对于并行序列位宽小于目标序列位宽的情况,具有检测效率高,对操作平台速度要求低的优点。可直接实现对并行数据的特定序列检测。
搜索关键词: 一种 连续 并行 序列 检测 方法
【主权项】:
1.一种连续并行序列检测方法,具体步骤如下:步骤1、待检测的i bit并行数据经过移位寄存填满寄存器组,其中最早输出的数据存储在第1级寄存器组中,每一级寄存器组的位宽为i,总的寄存器组个数即移位寄存的次数为:其中符号为向上取整符号,a为保存在本地的目标序列的位宽,a>i;所述寄存器组以移位寄存器的方式工作,其位宽与数据发送端的并行度相等,靠近数据发送端的寄存器组为高级寄存器组,远离数据发送端的寄存器组为低级寄存器组,寄存器组暂存发送端数据,以提供数据检测组;步骤2、以第1级寄存器组的第i‑1位为第一数据检测组的最高位,并按照从高位到低位的顺序拼接寄存器组数据,使数据检测组位宽等于a,形成第一数据检测组;以第1级寄存器组的第i‑2位为第二数据检测组的最高位,并按照从高位到低位的顺序拼接寄存器数据,使数据检测组位宽等于a,形成第二数据检测组;以此类推,以第1级寄存器的第0位为第i数据检测组的最高位,并按照从高位到低位的顺序拼接寄存器数据,使数据检测组位宽等于a,形成第i数据检测组;步骤3、将i个数据检测组与目标序列进行对照,判断其中是否有目标序列;若某一数据检测组与目标序列相同,表明在并行序列中检测到了目标序列,则输出相应数据检测组的标志信号,说明具体在哪一数据检测组中检测到目标序列;若i个数据检测组与目标序列均不相同,则将高级寄存器组中的数据向下一级移位寄存,并舍弃掉原第1级寄存器组中的数据,最高级寄存器组中的数据由数据发送端重新提供;步骤4、循环上述过程直至在数据检测组中检测到目标序列即可实现连续并行序列检测功能。
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