[发明专利]RFID标签性能测试系统在审
| 申请号： | 201710154534.3 | 申请日： | 2017-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN107064704A | 公开（公告）日： | 2017-08-18 |
| 发明（设计）人： | 张楠;金磊;陈彬;李雨翔;张志华 | 申请（专利权）人： | 北京中科国技信息系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R23/165;G01R21/133;G06K17/00;G06K19/07 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人： | 韩建伟,张永明 |
| 地址： | 100097 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种RFID标签性能测试系统。其中，该系统包括综测仪，通过数据接口与上位机通信，接收上位机发出的测试指令，综测仪响应测试指令发出测试信号，其中，测试信号用于指示对RFID标签性能进行测试；功率放大器，与综测仪连接，用于对测试信号的功率进行放大；射频开关单元，与上位机通信，响应上位机发出的选择指令在多条天线中选择目标天线，其中，多条天线环绕分布在RFID标签周围，通过目标天线发送放大后的测试信号至RFID标签，以对RFID标签进行性能测试。本发明解决了RFID标签的性能测试速度慢的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | rfid 标签 性能 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种RFID标签性能测试系统，其特征在于，包括：综测仪，通过数据接口与上位机通信，接收所述上位机发出的测试指令，所述综测仪响应所述测试指令发出测试信号，其中，所述测试信号用于指示对RFID标签性能进行测试；功率放大器，与所述综测仪连接，用于对所述测试信号的功率进行放大；射频开关单元，与所述上位机通信，响应所述上位机发出的选择指令在多条天线中选择目标天线，其中，多条所述天线环绕分布在所述RFID标签周围，通过所述目标天线发送放大后的测试信号至所述RFID标签，以对所述RFID标签进行性能测试。
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