[发明专利]一种观测视电阻率的校正方法及系统

摘要

本发明公开了一种观测视电阻率的校正方法及系统。该方法包括获取巷道观测视电阻率的校正公式；根据在巷道中采用二极法观测所得的实际观测视电阻率曲线与构造的二极法校正函数所得曲线的拟合情况，确定二极法校正函数的正确性，利用三极法、对称四极法与二极法之间的组合变换关系，确定所述三极法、对称四极法观测视电阻率的校正函数，进而确定对应的校正公式；根据所述观测视电阻率的校正公式对所述观测视电阻率进行校正，得到校正后的视电阻率。本发明提供的观测视电阻率的校正方法及系统能够很好的对巷道观测视电阻率进行校正，排除巷道环境的干扰，为巷道的超前探测提供可靠的数据依据。

主权项

一种观测视电阻率的校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取巷道的观测视电阻率的校正公式其中，为校正后的视电阻率，ρs为待校正观测视电阻率，k(r,b)为校正函数，所述校正函数为二极法观测视电阻率校正函数或者三极法观测视电阻率校正函数或者对称四极法观测视电阻率校正函数，所述校正函数为与观测极矩r和巷道宽度b有关的函数；确定在巷道不同位置上进行观测时所获得的二极法实际观测视电阻率曲线，所述二极法实际观测视电阻率曲线由有限元分析法得到；将由二极法观测视电阻率的校正函数得到的曲线与所述二极法实际观测视电阻率曲线进行拟合，确定二极法观测视电阻率校正函数中的待定系数，确定所述二极法观测视电阻率的校正函数；对所述二极法观测视电阻率的校正函数进行转换，确定所述三极法观测视电阻率的校正函数、对称四极法观测视电阻率的校正函数；将所述二极法观测视电阻率的校正函数、三极法观测视电阻率的校正函数、对称四极法观测视电阻率的校正函数分别带入所述观测视电阻率的校正公式，确定所述二极法观测视电阻率的校正公式、三极法观测视电阻率的校正公式、对称四极法观测视电阻率的校正公式；根据所述观测视电阻率的校正公式对所述待校正观测视电阻率进行校正，得到校正后的视电阻率。