[发明专利]基于转筒螺旋线孔取样的激光光束质量测量装置和方法

摘要

本发明公开了一种基于转筒螺旋线孔取样的激光光束质量测量装置及方法，装置包括转筒、光电探测器和数据采集处理单元，转筒绕转轴高速旋转，转筒的筒壁上至少设置有一组沿转轴轴线方向呈螺旋线排布的取样孔，取样孔的中心线与转轴轴线垂直相交，待测量激光束沿垂直于转轴的轴线方向从转筒外部入射至转筒内部的光电探测器，取样孔的孔径小于待测量激光束的尺度，相邻两只取样孔在转筒横截面上的间距大于待测量激光束的尺度。本发明通过设置取样孔的位置，确保光电探测器只能接收到一个取样孔的信号，使得在一个光束扫描周期内，可以获得整个光束的光强分布及光强峰值，模拟了光阑孔沿光束截面上微调以获取焦斑中心处功率并测量光束质量PIB的方式。

主权项

1.基于转筒螺旋线孔取样的激光光束质量测量方法，其特征在于，包括以下步骤：1)待测量激光束(1)穿过匀速转动转筒筒壁上的多组沿转轴(5)轴线方向呈螺旋线排布的取样孔(2)；所述的取样孔(2)的中心线与转轴(5)轴线垂直相交，取样孔(2)的孔径小于待测量激光束(1)的尺度；2)光电探测器对穿过每只取样孔的激光束进行高速重叠取样测量，获取激光束在不同取样位置处的功率值；3)数据采集处理单元记录并处理光电探测器在一个扫描周期内的系列光功率值，根据采集时间与转筒转动时取样孔的位置关系，获取每个光束扫描周期内的最大光强值，即为该时段内的桶中功率值，实现PIB参数测量。