[发明专利]一种体源测量探测器的校准方法有效

专利信息
申请号: 201710131041.8 申请日: 2017-03-07
公开(公告)号: CN108572387B 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 唐智辉;陈立;韦应靖;商洁;王勇;李强;冯梅;方登富;张庆利;以恒冠;黄亚雯;崔伟 申请(专利权)人: 中国辐射防护研究院
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00
代理公司: 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 代理人: 任晓航;周敏毅
地址: 030006 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要: 发明属于辐射探测技术领域,涉及一种体源测量探测器的校准方法。所述的校准方法包括如下步骤,(1)对体源测量探测器进行蒙特卡洛模拟;(2)若蒙特卡洛模拟结果不符合要求,则修改体源测量探测器的探头的尺寸重新进行蒙特卡洛模拟;(3)若蒙特卡洛模拟结果符合要求,则提取体源测量探测器的探头的尺寸数据;(4)在步骤(3)的基础上,结合被测样品数据、体源测量探测器除探头外其他部件的尺寸及空间结构,采用蒙特卡洛模拟对实际测量进行模拟;(5)获得体源测量探测器对体源的探测效率,并找出模拟探测效率与此探测效率相同的点,用固体点源摆点加以验证。利用本发明的校准方法,可以方便、准确的进行体源测量探测器的校准。
搜索关键词: 一种 测量 探测器 校准 方法
【主权项】:
1.一种体源测量探测器的校准方法,其特征在于,所述的校准方法包括如下步骤,(1)对所述的体源测量探测器进行蒙特卡洛模拟;(2)若蒙特卡洛模拟结果不符合要求,则修改所述的体源测量探测器的探头的尺寸重新进行蒙特卡洛模拟;(3)若蒙特卡洛模拟结果符合要求,则提取所述的体源测量探测器的探头的尺寸数据;(4)在步骤(3)的基础上,结合被测样品数据、体源测量探测器除探头外其他部件的尺寸及空间结构,采用蒙特卡洛模拟对实际测量进行模拟;(5)获得体源测量探测器对体源的探测效率,并找出模拟探测效率与此探测效率相同的点,用固体点源摆点加以验证。
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