[发明专利]半导体激光器的测试系统在审

专利信息
申请号: 201710121370.4 申请日: 2017-03-02
公开(公告)号: CN106679937A 公开(公告)日: 2017-05-17
发明(设计)人: 钟绪浪;朱宝华;王瑾;陆业钊;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 刘雯
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种半导体激光器的测试系统,包括若干个驱动模块,用于驱动若干个半导体激光器,以及主控模块,用于根据需要得到的激光功率和所述若干个半导体激光器各自的激光功率,给出所述若干个驱动模块的使能信号,以开启或关断各驱动模块,使得开启的驱动模块驱动的半导体激光器总的功率能达到所述需要得到的激光功率;该测试系统可以根据需要得到的激光功率和半导体激光器各自的激光功率,对多个半导体激光器进行组合,得到输出不同激光功率的半导体激光器,进而对其进行研发测试,无需为特定激光功率的半导体激光器单独设计对应的电源及控制系统,提高了研发效率。
搜索关键词: 半导体激光器 测试 系统
【主权项】:
一种半导体激光器的测试系统,其特征在于,包括:若干个驱动模块,用于驱动若干个半导体激光器;主控模块,用于根据需要得到的激光功率和所述若干个半导体激光器各自的激光功率,给出所述若干个驱动模块的使能信号,以开启或关断各驱动模块,使得开启的驱动模块驱动的半导体激光器总的功率能达到所述需要得到的激光功率。
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