[发明专利]一种基于径向扫描测量的三维面形精确重构方法

摘要

本发明公开了一种基于径向扫描测量的三维面形精确重构方法，包括：确定径向扫描线并选取多条基准扫描线；根据多条径向基准扫描线，得到各径向基准扫描线上的二维截面轮廓；确定各径向基准扫描线上各点在重构三维面形后的高度值；确定所有径向扫描线上各点在重构三维面形后的高度值，并重构整个三维面形；去掉重构后三维面形在任意正交的两个方向上的相对倾斜量和相对平移量，完成被测表面的三维面形的重构。本发明有效消除了扫描平台在各扫描线之间的运动误差，通过选取多条基准扫描线能有效提高实际测量时的信噪比，抑制噪声对重构精度的影响，大大提高重构的精度。本发明可广泛应用于三维重构领域中。

主权项

1.一种基于径向扫描测量的三维面形精确重构方法，其特征在于，包括以下步骤：确定径向扫描线并选取多条基准扫描线；对被测表面进行扫描测量，得到各径向扫描线和基准扫描线上的二维截面轮廓；确定各径向基准扫描线上各点在重构三维面形后的高度值；确定所有径向扫描线上各点在重构三维面形后的高度值，并重构整个三维面形；去掉重构后三维面形在任意正交的两个方向上的相对倾斜量和相对平移量，完成被测表面的三维面形的重构；所述的确定径向扫描线并选取多条基准扫描线，这一步骤具体包括：选取两条互相垂直的径向扫描线作为第一径向基准扫描线X和第二径向基准扫描线Y；选取一条与第一径向基准扫描线X和第二径向基准扫描线Y均相交的斜向扫描线作为第三基准扫描线S₁；所述的确定各径向基准扫描线上各点在重构三维面形后的高度值，其具体包括：调整第一径向基准扫描线X上二维截面轮廓的相对倾斜量k_X和相对平移量b_X，确定第一径向基准扫描线X上各点在重构三维面形后的高度值；调整第二径向基准扫描线Y上二维截面轮廓的相对倾斜量k_Y和相对平移量b_Y，确定第二径向基准扫描线Y上各点在重构三维面形后的高度值；调整第三基准扫描线S₁上二维截面轮廓的相对倾斜量和相对平移量确定第三基准扫描线S₁上各点在重构三维面形后的高度值。