[发明专利]包括横向晶体管的半导体器件有效

专利信息
申请号: 201710063176.5 申请日: 2017-02-03
公开(公告)号: CN107026207B 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: F.希尔勒;A.毛德;A.迈泽;T.施勒泽 申请(专利权)人: 英飞凌科技奥地利有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 申屠伟进;杜荔南
地址: 奥地利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及包括横向晶体管的半导体器件。一种半导体器件(1)包括第一导电类型的源极区(201)和漏极区(204)。源极区(201)和漏极区(204)布置在与半导体衬底(100)的第一主表面(100)平行的第一方向上。半导体器件(1)进一步包括层堆叠(241),层堆叠(241)包括第一导电类型的漂移层(211)和第二导电类型的补偿层(221)。漏极区(204)与漂移层(211)电连接。半导体器件进一步包括延伸到半导体衬底(100)中的第二导电类型的连接区(222),该连接区(222)与补偿层(221)电连接,其中掩埋半导体部分(253)不与漂移层(211)完全重叠。
搜索关键词: 包括 横向 晶体管 半导体器件
【主权项】:
一种半导体器件(1),包括:漂移接触区(218);第一导电类型的漏极区(204),所述漂移接触区(218)和所述漏极区(204)布置在与半导体衬底(100)的第一主表面(110)平行的第一方向上;层堆叠(241),包括第一导电类型的漂移层(211)和第二导电类型的补偿层(221),所述漏极区(204)与所述漂移层(211)电连接;在所述半导体衬底(100)中延伸的第二导电类型的连接区(222),所述连接区(22)与所述补偿层(221)电连接;以及在所述层堆叠(241)下方并且与所述连接区(222)电接触的掩埋半导体部分(253),其中,所述掩埋半导体部分(253)不与所述漂移层(211)完全重叠。
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