[发明专利]阵列基板、其测试方法及显示装置有效
| 申请号： | 201710022521.0 | 申请日： | 2017-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN106526923B | 公开（公告）日： | 2019-04-23 |
| 发明（设计）人： | 张子鹤;季斌;李建军 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 李莎;李弘 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种阵列基板、其测试方法及显示装置，包括驱动芯片和至少一个像素单元，所述像素单元包括输出线路，所述输出线路的第一端连接至所述驱动芯片的输出端，所述阵列基板有效显示区域外，设置与所述输出线路相同的测试线路；所述测试线路的第一端连接至所述输出线路的第二端，所述测试线路的第二端连接至所述驱动芯片的测试端。本发明实施例通过在显示面板的阵列基板上，设置一条与普通输出线路相同的测试线路，将输出线路与测试线路串联，从而将输出线路两端传输延迟的测量转化为输出线路和测试线路各自与驱动芯片连接端之间传输延迟的测量，解决了输出线路远离驱动芯片端信号难以实际测量的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 方法 显示装置 | ||
【主权项】：
1.一种阵列基板，包括驱动芯片和至少一个像素单元，所述像素单元包括输出线路，所述输出线路的第一端连接至所述驱动芯片的输出端，其特征在于，所述阵列基板有效显示区域外，设置与所述输出线路相同的测试线路；所述测试线路的第一端连接至所述输出线路的第二端，所述测试线路的第二端连接至所述驱动芯片的测试端。
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