[发明专利]有限区域内测量粗糙表面反射率的方法及装置在审
申请号: | 201710006027.5 | 申请日: | 2017-01-05 |
公开(公告)号: | CN106841114A | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
发明(设计)人: | 覃英宏;谭康豪 | 申请(专利权)人: | 广西大学 |
主分类号: | G01N21/47 | 分类号: | G01N21/47;G01N21/01 |
代理公司: | 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙)11369 | 代理人: | 靳浩 |
地址: | 530000 广西壮族*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明公开了一种有限区域内测量粗糙表面反射率的方法及装置,包括以下步骤在目标区域表面正上方设置太阳辐射仪,太阳辐射仪上的日照探射器朝下时与目标区域中心表面的垂直距离H至少为0.4m;太阳辐射仪接收入射太阳辐射It和反射太阳辐射Rt,所述太阳辐射仪在接收反射太阳辐射Rt时,太阳辐射仪的日照探射器外周设置有圆环形的遮光罩;在目标区域的表面覆盖一张具有非选择性光谱且已知反射率的参照板,并记录此时入射太阳辐射Ir和反射太阳辐射Rr;计算目标区域反射率ρt。本发明能够在户外对小面积的粗糙表面测量反射率,操作简单,经济合理。 | ||
搜索关键词: | 有限 区域内 测量 粗糙 表面 反射率 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种有限区域内测量粗糙表面反射率的方法,其特征在于,包括以下步骤:1)在目标区域表面正上方设置太阳辐射仪,太阳辐射仪上的日照探射器朝下时与目标区域中心表面的垂直距离H至少为0.4m;2)太阳辐射仪接收入射太阳辐射It和反射太阳辐射Rt,所述太阳辐射仪在接收反射太阳辐射Rt时,太阳辐射仪的日照探射器外周设置有圆环形的遮光罩;3)在目标区域的表面覆盖一张具有非选择性光谱且已知反射率的参照板,并记录此时入射太阳辐射Ir和反射太阳辐射Rr;4)计算目标区域反射率ρt,其中,ρr为参照板的反射率,ρ2遮光罩内表面反射率,ρs周围环境介质反射率,F2→s表示周围环境介质到遮光罩内表面的视角因子,F1→2表示遮光罩内表面到日照探射器的视角因子。
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