[发明专利]一种磁共振偏中心成像二阶匀场方法

摘要

本发明涉及一种磁共振偏中心成像二阶匀场方法，包括：1.3D双回波梯度回波数据采集及重建；2.定量计算三维B0场图；3.测量一阶匀场输出刻度；4.测量二阶匀场输出刻度；5.自动匀场计算；6.偏磁体中心的一阶匀场修正；7.匀场输出，通过步骤5和6最终计算得到的各匀场分量数值，并利用步骤3和4中得到的刻度值转换为匀场功放的输出值，实现偏磁体中心的二阶匀场。本发明消除或减小了来自于图像中有磁共振中心频率的误差、化学位移的影响、部分容积效应、图像上距离与物体实际距离的误差，匀场功率放大器输出的误差等原因造成的匀场效果不准确；有效地消除或减小了离磁体中心较远位置所受到的二阶以上的高阶不均匀项引起的误差。

主权项

1.一种磁共振偏中心成像二阶匀场方法，其特征在于，包括如下步骤：1)利用磁共振三维双梯度回波采集水模数据，计算三维模图和回波相位差图并作多通道组合，以第一个回波模图上最大信号的10％作为mask阈值分离图像中的水模和背景；2)利用三维最优路径去相位折叠算法将步骤1)中得到的回波相位差图进行去折叠，然后定量计算三维B0场图；3)在不改变二阶匀场功放各分量数值情况下，改变一阶匀场功放的电流输出数值采集若干份(不少于6份)3D B0场图并计算一阶匀场项磁场梯度大小，并通过线性回归得到各一阶匀场功放输出数值与图像上的一阶匀场梯度之间的精确转换的刻度关系；4)在不改变一阶匀场功放各分量数值情况下，改变二阶匀场功放的电流输出数值采集若干份3D B0场图并计算二阶匀场项磁场梯度大小，并通过线性回归得到各二阶匀场功放输出数值与图像上的二阶匀场梯度之间的精确转换的刻度关系；5)将步骤3)和4)中得到的各个匀场刻度值保存在成像系统中，在具体匀场应用过程中，建立以成像感兴趣区域中心为原点的球谐函数模型对得到的三维B0定量场图进行拟合，计算得到磁场不均匀的一阶和二阶分量；6)根据偏离磁体中心的位移和将要补偿的磁场不均匀二阶分量值的大小以及将会额外引起的一阶不均匀项之间的线性关系，再对一阶项进行计算修正；7)将最终计算得到的各匀场分量数值，利用步骤3)和4)中得到的刻度值转换为匀场功放的输出值，实现偏磁体中心的二阶匀场。