[发明专利]一种超低阻硅靶材的生产方法有效

专利信息
申请号: 201710004519.0 申请日: 2017-01-04
公开(公告)号: CN106676486B 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 张磊;顾正;张晓峰;郭校亮;陈良杰 申请(专利权)人: 青岛蓝光晶科新材料有限公司
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C30B28/06;C30B11/00;C30B29/06
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 梅洪玉
地址: 262200 山东省青岛市即墨市蓝色*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及硅靶材生产技术领域,特别涉及一种超低阻硅靶材的生产方法。该方法采用经过酸浸泡处理过的高硼含量母合金掺入,经过高效铸锭工艺进行硅靶材生产。本发明可使硅靶材的电阻率小于0.01Ω·cm,最低可达到0.005Ω·cm,其尺寸范围可以达到500mm×500mm,纯度大于5.5N,致密度大于99%。
搜索关键词: 一种 超低阻硅靶材 生产 方法
【主权项】:
一种超低阻硅靶材的生产方法,其特征是:将经过酸浸泡处理过的高硼含量母合金和硅料一起加入石英坩埚中,经过铸锭工艺后得到电阻率小于0.01Ω·cm的硅锭。
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