[发明专利]3D NAND字线中用于增强的氟保护和应力减少的坚固的成核层有效
申请号: | 201680054941.0 | 申请日: | 2016-08-30 |
公开(公告)号: | CN108028256B | 公开(公告)日: | 2022-01-28 |
发明(设计)人: | R.沙朗帕尼;K.舒克拉;R.S.马卡拉;S.佩里;李耀升 | 申请(专利权)人: | 桑迪士克科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11573 | 分类号: | H01L27/11573;H01L27/11582;H01L29/49;H01L21/285;H01L27/11534;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L21/443;H01L21/441;H01L27/11563;H01L21/3065;H01L21/311;H01L |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 可以采用含硅成核层来提供自对齐模板,以用于在三维存储器器件的形成期间在背侧凹陷内选择性地沉积钨。含硅成核层可以保持为硅层、转换成硅化钨层、或用钨成核层来代替。在随后的钨沉积工艺中可以仅在含硅成核层或由其衍生出的层的表面上进行钨沉积。 | ||
搜索关键词: | nand 字线中 用于 增强 保护 应力 减少 坚固 成核 | ||
【主权项】:
1.一种制造半导体器件的方法,包括:在基板上形成包括绝缘层和牺牲材料层的交替层的堆叠;穿过堆叠形成多个存储器开口;在所述多个存储器开口中形成存储器堆叠结构,所述存储器堆叠结构中的每一个从外向内包括存储器材料层、隧穿电介质层、和半导体沟道;穿过交替层的堆叠形成背侧通孔沟槽;通过采用穿过背侧通孔沟槽引入的蚀刻剂来移除对绝缘层有选择性的牺牲材料层来形成背侧凹陷;在背侧凹陷中沉积含硅成核层;以及在所述含硅成核层的沉积之后在背侧凹陷中形成至少一个钨层;其中存储器堆叠结构的控制栅电极形成在背侧凹陷的级处;并且其中,控制栅电极中的每一个包括至少一个钨层的部分。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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