[实用新型]微型显示器寿命测试系统有效
申请号: | 201620832136.3 | 申请日: | 2016-08-03 |
公开(公告)号: | CN205881417U | 公开(公告)日: | 2017-01-11 |
发明(设计)人: | 申请(专利权)人: | ||
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 昆明祥和知识产权代理有限公司53114 | 代理人: | 施建辉 |
地址: | 650223 *** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | 微型显示器寿命测试系统,涉及AMOLED微型显示器,尤其是一种用于检测微型显示器使用寿命的微型显示器寿命测试装置。本实用新型的微型显示器寿命测试系统,其特征在于该测试系统包括测试装置测试通道、测试计算机、MCU微控制单元、传感器模块、数字恒压电源以及电压控制式可调恒流源,MCU微控制单元与传感器模块安装在测试通道内,MCU微控制单元内集成A/D数模转换模块,传感器模块包括温度传感器以及亮度传感器,传感器模块与MCU微控制单元连接,MCU微控制单元与测试计算机连接,数字恒压电源集成在待测试AMOLED微型显示器内,电压控制式可调恒流源安装在测试通道上且与MCU微控制单元连接。本实用新型的微型显示器寿命测试装置,设计科学,结构合理,使用方便。 | ||
搜索关键词: | 微型 显示器 寿命 测试 系统 | ||
【主权项】:
一种微型显示器寿命测试系统,其特征在于该测试系统包括测试装置测试通道、测试计算机、MCU微控制单元、传感器模块、数字恒压电源以及电压控制式可调恒流源,MCU微控制单元与传感器模块安装在测试通道内,MCU微控制单元内集成A/D数模转换模块,传感器模块包括温度传感器以及亮度传感器,传感器模块与MCU微控制单元连接,MCU微控制单元与测试计算机连接,数字恒压电源集成在待测试AMOLED微型显示器内,电压控制式可调恒流源安装在测试通道上且与MCU微控制单元连接。
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