[实用新型]VCM一体化性能测试系统有效
| 申请号： | 201620477688.7 | 申请日： | 2016-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN206115134U | 公开（公告）日： | 2017-04-19 |
| 发明（设计）人： | 丁杰;许克亮;张银凤 | 申请（专利权）人： | 昆山丘钛微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G03B43/00 | 分类号： | G03B43/00 |
| 代理公司： | 昆山四方专利事务所32212 | 代理人： | 盛建德,李娜 |
| 地址： | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种VCM一体化性能测试系统，包括给VCM两端施加电压的电源电路、设有定时器的主控单元(MCU)、与主控单元(MCU)连接的服务器、VCM测试模块以及与VCM测试模块连接的镭射测距仪，MCU控制VCM测试模块的运行，VCM测试模块能够在完成VCM震荡测试之后且打开MCU定时器的情况下，通过在第一个震荡周期T内的某一时间点t(0<t<震荡周期(T))，调节电压，将对VCM的输入电流i减少到某一个小于初始电流I的电流值(0<i<初始电流(I))，使VCM产生一个向下的力来抵消VCM向上的震荡力，并在此基础上逐渐加大输入电流i，最终恢复初始电流I，实现VCM震荡抑制。 | ||
| 搜索关键词： | vcm 一体化 性能 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种VCM一体化性能测试系统，其特征是：包括给VCM两端施加电压的电源电路、设有定时器的主控单元(MCU)、与主控单元(MCU)连接的服务器、VCM测试模块以及与VCM测试模块连接的镭射测距仪。
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