[实用新型]一种微地形地表粗糙度测量装置有效
申请号: | 201620459662.X | 申请日: | 2016-05-19 |
公开(公告)号: | CN205748243U | 公开(公告)日: | 2016-11-30 |
发明(设计)人: | 肖波;胡克林 | 申请(专利权)人: | 中国农业大学 |
主分类号: | G01B5/28 | 分类号: | G01B5/28 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
地址: | 100193 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型涉及野外测量设备技术领域,尤其涉及一种微地形地表粗糙度测量装置。本实用新型的微地形地表粗糙度测量装置包括可伸缩支架、测针单元和长度校正后的线绳,可伸缩支架的两端可垂直固定在待测地表上,其中部设有竖直设置且并行排列的多个测针单元,长度校正后的线绳顺次穿过多个测针单元,测针单元和长度校正后的线绳能同时通过测针法和链条法测量待测地表的地表粗糙度。该微地形地表粗糙度测量装置可同时通过链条法和测针法测量微地形的地表粗糙度,且可针对微地形的尺度大小,灵活调整测量的廓线长度和采样间距,适用于不同大小的微地形地表粗糙度测量,此外,还可以通过多次测量获得二维平面地表粗糙度。 | ||
搜索关键词: | 一种 地形 地表 粗糙 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种微地形地表粗糙度测量装置,其特征在于,包括可伸缩支架、测针单元和长度校正后的线绳,所述可伸缩支架的两端可垂直固定在待测地表上,其中部设有竖直设置且并行排列的多个测针单元,所述长度校正后的线绳顺次穿过多个所述测针单元,所述测针单元和长度校正后的线绳能同时通过测针法和链条法测量所述待测地表的地表粗糙度。
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