[实用新型]测试板有效
| 申请号： | 201620360300.5 | 申请日： | 2016-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN205562750U | 公开（公告）日： | 2016-09-07 |
| 发明（设计）人： | 赵广艳 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 屈蘅;李时云 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种测试板。所述测试板用于测试BGA封装芯片，所述测试板包括测试基板和安装在所述测试基板上的用于固定BGA封装芯片的插座。其中，所述插座包括：沿第一方向延伸的第一滑动轨道、可沿所述第一滑动轨道滑动的第一定位部件、沿第二方向延伸的第二滑动轨道以及可沿所述第二滑动轨道滑动得第二定位部件。由于本实用新型中用于固定BGA封装芯片的插座采用可移动的第一定位部件和第二定位部件，根据所述第一定位部件及第二定位部件可分别于不同方向夹持BGA封装芯片，实现对不同尺寸的BGA封装芯片的固定，从而使得所述测试板可用于检测不同尺寸的BGA封装芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 | ||
【主权项】：
一种测试板，所述测试板用于测试BGA封装芯片，包括：测试基板和安装在所述测试基板上的用于固定BGA封装芯片的插座，所述测试基板上具有一引脚测试点区域，其特征在于，所述插座包括：沿第一方向延伸的第一滑动轨道、可沿所述第一滑动轨道滑动的第一定位部件、沿第二方向延伸的第二滑动轨道、以及可沿所述第二滑动轨道滑动的第二定位部件，其中，所述第一滑动轨道位于所述引脚测试点区域的两侧，所述第二方向与所述第一方向交叉。
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