[实用新型]一种激光喷嘴与加工面垂直度的校核系统有效

专利信息
申请号: 201620123194.9 申请日: 2016-02-16
公开(公告)号: CN205520119U 公开(公告)日: 2016-08-31
发明(设计)人: 肖磊;吴佳霖;李金江;徐地华 申请(专利权)人: 广东正业科技股份有限公司
主分类号: B23K26/70 分类号: B23K26/70;B23K26/38
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 523808 广东省东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种激光喷嘴与加工面垂直度的校核系统,包括设置于激光喷嘴上同一位置的第一测距传感器、第二测距传感器和第三测距传感器;所述第一测距传感器的测距方向与激光喷嘴的轴向平行,所述第二测距传感器和第三测距传感器的测距方向均与激光喷嘴的轴向呈等值夹角;还包括根据所述第一测距传感器、第二测距传感器及第三测距传感器采集的自身到加工面的距离数据判断激光喷嘴是否垂直于加工面的控制器。本实用新型所公开的校核系统,通过第一测距传感器、第二测距传感器和第三测距传感器的测距功能,以及控制器的逻辑运算功能,避免了现有技术中的肉眼观察和接触式的直尺测量方法,较快速且精确地识别激光喷嘴与加工面的垂直度关系。
搜索关键词: 一种 激光 喷嘴 加工 垂直 校核 系统
【主权项】:
一种激光喷嘴与加工面垂直度的校核系统,其特征在于,包括设置于激光喷嘴上同一位置的第一测距传感器(1)、第二测距传感器(2)和第三测距传感器(3);所述第一测距传感器(1)的测距方向与激光喷嘴的轴向平行,所述第二测距传感器(2)和第三测距传感器(3)的测距方向均与激光喷嘴的轴向呈等值夹角;还包括根据所述第一测距传感器(1)、第二测距传感器(2)及第三测距传感器(3)采集的自身到加工面的距离数据判断激光喷嘴是否垂直于加工面的控制器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东正业科技股份有限公司,未经广东正业科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201620123194.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top