[实用新型]一种基于双测微仪的厚度测量装置有效
| 申请号： | 201620083916.2 | 申请日： | 2016-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN205482775U | 公开（公告）日： | 2016-08-17 |
| 发明（设计）人： | 张迪;祝小威;王战 | 申请（专利权）人： | 郑州磨料磨具磨削研究所有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 郑州中原专利事务所有限公司 41109 | 代理人： | 霍彦伟 |
| 地址： | 450001 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于双测微仪的厚度测量装置，包括XYZ三轴运动平台，Z轴上下两端连接横梁，横梁上同轴设置第一测微仪和第二测微仪，XYZ三轴运动平台相对Z轴设置工件支架，工件支架上固定装卡平台，第一测微仪和第二测微仪连接放大器，XYZ三轴的运动导轨分别连接PLC控制器。利用测微仪进行测量，可实现快速读数，精度远远优于千分表，稳定性好；采用双测微仪同时进行测量，且两个测微仪上下相对放置，避免了测量精度受被测工件变形的影响；被测工件的测量点位置可通过X和Y轴运动而实现变动，从而可对应多个不同的测量位置，而无需重新安装更改硬件，测量方便灵活；利用测微仪进行测量，不受工件材质和表面粗糙度的限制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 双测微仪 厚度 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种基于双测微仪的厚度测量装置，其特征在于：包括XYZ三轴运动平台，Z轴上下两端连接横梁，横梁上同轴设置第一测微仪和第二测微仪，XYZ三轴运动平台相对Z轴设置工件支架，工件支架上固定装卡平台，第一测微仪和第二测微仪连接放大器，XYZ三轴的运动导轨分别连接PLC控制器。
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