[发明专利]岩层电阻率校正方法及装置有效
| 申请号： | 201611236577.8 | 申请日： | 2016-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN106802433B | 公开（公告）日： | 2019-03-12 |
| 发明（设计）人： | 肖承文;章成广;信毅;唐军;陈伟中;郑恭明;周磊;韩闯;赵新建;曹军涛 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V3/38 | 分类号： | G01V3/38;G01V3/20;E21B49/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 张洋;黄健 |
| 地址： | 100007 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种岩层电阻率校正方法及装置，该方法包括：测量模拟应力在不同压力差下岩心的电阻；其中，模拟应力包括：模拟张性应力或模拟压性应力；进一步地，分别根据不同压力差下岩心的电阻，确定不同压力差下岩心的电阻率，并根据不同压力差下岩心的电阻率，确定模拟应力下的电阻率校正系数；进一步地，根据模拟应力下的电阻率校正系数，对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正。可见，通过根据模拟应力下的电阻率校正系数对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，使得校正后的岩层电阻率更加准确，以便于能够根据校正后的岩层电阻率来准确地测定实际的致密砂岩储层的物理特性。 | ||
| 搜索关键词： | 岩层 电阻率 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种岩层电阻率校正方法，其特征在于，包括：测量模拟应力在不同压力差下岩心的电阻；其中，所述模拟应力包括：模拟张性应力或模拟压性应力，当所述模拟应力为所述模拟张性应力时，所述压力差为轴压与围压之差，当所述模拟应力为所述模拟压性应力时，所述压力差为围压与轴压之差；分别根据所述不同压力差下岩心的电阻，确定所述不同压力差下岩心的电阻率；根据所述不同压力差下岩心的电阻率，确定所述模拟应力下的电阻率校正系数；根据所述模拟应力下的电阻率校正系数，对测量得到的对应应力类型下的岩层电阻率进行校正，其中，所述应力类型包括：张性应力或压性应力。
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