[发明专利]光学暗室光学性能检测方法与系统有效
| 申请号： | 201611180051.2 | 申请日： | 2016-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN106596067B | 公开（公告）日： | 2018-11-27 |
| 发明（设计）人： | 龙阳;庄奕;张辉;何健 | 申请（专利权）人： | 河南广电计量检测有限公司;广州广电计量检测股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01N21/55 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 黄晓庆 |
| 地址： | 450045 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学暗室光学性能检测方法与系统，识别空间几何中光学暗室的墙面，将每个所述墙面划设为单个检测区域，对各所述检测区域分别设置检测点，对各所述检测点进行反射率测试，获取各所述检测点反射率检测结果，构建评价模型表征光学暗室光学性能检测结果。整个过程中，采用合理的方式针对光学暗室几何墙面设置检测区域，并且在每个检测区域中设置一定数量的检测点，最终采用评价模型来表征光学暗室光学性能检测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 暗室 性能 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种光学暗室光学性能检测方法，其特征在于，包括步骤：识别空间几何中光学暗室的墙面，将每个所述墙面划设为单个检测区域；对各所述检测区域分别设置检测点；对各所述检测点进行反射率测试，获取各所述检测点反射率检测结果；根据各所述检测点反射率检测结果，构建评价模型表征光学暗室光学性能检测结果；所述根据各所述检测点反射率检测结果，构建评价模型表征光学暗室光学性能检测结果的步骤包括：根据各所述检测点反射率检测结果，构建三维评价模型，且在所述三维评价模型中采用颜色深浅表征反射率高低。
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