[发明专利]一种大批量LED封装生产过程的品质控制方法

摘要

本发明公开了一种大批量LED封装生产过程的品质控制方法，该方法包括LED产品的离线分析和LED涂覆生产过程的在线监控。离线分析包括：采集LED产品的5个质量指标数据并进行预处理；利用多变量控制图判定产品质量是否异常；若异常，采用优化的支持向量机进行多变量异常源识别；采用Apriori算法分析识别的异常质量指标所关联的异常生产参数。涂覆生产过程在线监控包括：采集LED封装生产过程中荧光粉涂覆工艺的6个生产参数；利用多变量控制图判定生产过程是否异常；若异常，采用优化的支持向量机进行多变量异常源识别，确定异常参数。本发明提供了一种大批量LED封装生产过程的智能分析与检测方法，可有效解决LED封装生产过程的品质控制问题。

主权项

1.一种大批量LED封装生产过程的品质控制方法，其特征在于包括LED产品的离线分析和LED涂覆生产过程的在线监控；LED产品的离线分析包括：采集LED的质量指标数据，使用多变量控制图识别异常状态；对于异常状态，采用优化的支持向量机识别异常源，确定异常质量指标，分析其关联的异常生产参数，并据此采取质量控制措施或者进行生产参数的调整；LED涂覆生产过程的在线监控包括：采集生产参数数据，使用多变量控制图识别生产过程的异常状态；对于异常状态，采用优化的支持向量机方法识别异常源，确定异常生产参数，并据此进行生产参数调整；通过对LED涂覆生产过程生产参数数据和产品质量指标数据的分析，识别和预测生产过程的异常状态，实现LED生产参数的及时调整和故障预防，以达到LED产品质量的控制。