[发明专利]一种倒T型埋栅结构的二维材料场效应晶体管及其制造方法有效
申请号: | 201611170853.5 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN106783623B | 公开(公告)日: | 2019-10-18 |
发明(设计)人: | 曹正义;吴云 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/28;H01L29/423;H01L29/78 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 唐代盛 |
地址: | 210016 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种倒T型埋栅结构的二维材料场效应晶体管及其制备方法,首先制备倒T型栅极栅帽和栅脚,然后制备栅介质及二维材料转移,并在衬底表面以平面光刻显影技术制备出隔离区图形,在衬底表面以平面光刻显影技术制备出源漏电极图形,制备出源漏电极;最后在衬底表面以电子束光刻显影技术制备出栅脚图形,与栅脚金属对准,以湿法腐蚀技术来将自对准法中连接源漏电极的金属从栅脚图形下断开,实现自对准,从而得到倒T型埋栅结构的二维材料场效应晶体管。本发明的栅脚栅长可以做到几十纳米量级,栅帽的金属可以使栅极的电阻减小,倒T型的结构使得栅极结构稳定,不会出现T型倒掉的情况。 | ||
搜索关键词: | 一种 型埋栅 结构 二维 材料 场效应 晶体管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种倒T型埋栅结构的二维材料场效应晶体管,其特征在于由以下步骤按顺序制备而得:(1)制备倒T型栅极栅帽:在绝缘衬底上以电子束光刻显影技术制备出场效应晶体管的倒T型栅极的栅帽图形,采用干法刻蚀技术在绝缘衬底上刻蚀出栅帽图形的凹槽,再金属化,辅以溶胶剥离技术,将凹槽填满,作为倒T型栅极的栅帽;其中,栅长为500nm‑2um,凹槽深度为200nm‑1um;(2)制备倒T型栅极栅脚:在绝缘衬底表面生长一层介质层,再以电子束光刻显影技术制备出场效应晶体管的倒T型栅极的栅脚图形,采用干法刻蚀技术刻蚀介质层直至下层金属,再金属化,金属厚度略高于介质层厚度,辅以溶胶剥离技术,制备出倒T型栅极的栅脚;(3)栅介质制备及二维材料转移:在栅脚上生长一层高k绝缘材料作为栅介质,采用金属转移工艺转移二维材料到衬底表面;(4)隔离区工艺:在衬底表面以平面光刻显影技术制备出隔离区图形,湿法腐蚀去除其他部分金属,再氧化去除隔离区外的二维材料;(5)源漏电极制备:在衬底表面以平面光刻显影技术制备出源漏电极图形,金属化,辅以溶胶剥离技术,制备出源漏电极;(6)自对准工艺:在衬底表面以电子束光刻显影技术制备出栅脚图形,与栅脚金属对准,以湿法腐蚀技术来将自对准法中连接源漏电极的金属从栅脚图形下断开,实现自对准,从而得到倒T型埋栅结构的二维材料场效应晶体管。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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