[发明专利]状态模拟电路和USB‑C接口测试方法在审
| 申请号： | 201611146967.6 | 申请日： | 2016-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN106841843A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 李金秀 | 申请（专利权）人： | 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人： | 韩建伟,李志刚 |
| 地址： | 100086 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种状态模拟电路和USB‑C接口测试方法。其中，状态模拟电路包括对外接口，用于连接待测产品的USB‑C接口，对外接口引出CC1测试接口和CC2测试接口，CC1测试接口和CC2测试接口用于连接测试设备，CC1测试接口与USB‑C接口的第一配置通道CC1相连接，CC2测试接口与USB‑C接口的第二配置通道CC2相连接；至少一个上拉电路，每个上拉电路的第一端与CC1测试接口或CC2测试接口相连接，每个上拉电路的第二端与第一外部电源相连接，至少一个上拉电路用于使USB‑C接口的配置通道处于UFP模式的预设状态以使测试设备测试USB‑C接口处于UFP模式的预设状态下的电参数。本发明解决了如何快速检测USB‑C接口处于UFP模式下的配置通道功能的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 状态 模拟 电路 usb 接口 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种状态模拟电路，其特征在于，所述状态模拟电路包括：对外接口，用于连接所述待测产品的USB‑C接口，所述对外接口引出CC1测试接口和CC2测试接口，所述CC1测试接口和所述CC2测试接口用于连接测试设备，所述CC1测试接口与所述USB‑C接口的第一配置通道CC1相连接，所述CC2测试接口与所述USB‑C接口的第二配置通道CC2相连接；至少一个上拉电路，每个所述上拉电路的第一端与所述CC1测试接口或所述CC2测试接口相连接，每个所述上拉电路的第二端与第一外部电源相连接，所述至少一个上拉电路用于使所述USB‑C接口的配置通道处于预设状态以使所述测试设备测试处于所述UFP模式的所述USB‑C接口在所述预设状态下的电参数。
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