[发明专利]监视厚度均匀性有效

专利信息
申请号: 201611144367.6 申请日: 2016-10-01
公开(公告)号: CN106772344B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: A·佩查尔斯基;F·努塞贝 申请(专利权)人: 霍尼韦尔国际公司
主分类号: G01S13/46 分类号: G01S13/46
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 蒋骏;陈岚
地址: 美国新*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 监视厚度均匀性。本文描述了用于监视厚度均匀性的设备、方法和系统。一种系统包括发射器,其被配置成在材料正在移动时发射信号通过材料的一部分,衰减器,其被配置成吸收发射信号的第一部分,反射器,其被配置成反射发射信号的第二部分,接收器,其被配置成接收反射信号,以及计算设备,其被配置成基于信号的发射和反射信号的接收之间的时间延迟来确定该部分材料的厚度。
搜索关键词: 监视 厚度 均匀
【主权项】:
一种用于监视厚度均匀性的系统(100,213,300,400,520,622),包括:发射器(102,202,302,402,502,602),配置成在材料(106,206,306,406,506,606)正在移动时发射信号(104,204,304,404)通过材料(106,206,306,406,506,606)的一部分;衰减器(110,210),其被配置成吸收发射信号(104,204,304,404)的第一部分(104‑1,104‑2,204‑1);反射器(108,208,308,408),其被配置成反射发射信号(104,204,304,404)的第二部分(104‑3,204‑2);接收器(112,212,412,512,612),其被配置成接收反射信号(104‑3,204‑2);和计算设备(724),其被配置成基于信号(104,204,304,404)的发射和反射信号(104‑3,204‑2)的接收之间的时间延迟来确定该部分材料(106,206,306,406,506,606)的厚度。
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