[发明专利]基于仿真数据相关性的集成电路参数成品率快速分析方法

摘要

本发明属于集成电路设计自动化领域，涉及一种基于仿真数据相关性的集成电路参数成品率快速分析方法及装置，本发明中首先获得电路的网表和各样本的工艺参数，然后通过部分电路仿真建立关于电路表现的相关性模型，再通过该相关性模型和已有的仿真数据，对剩余的电路仿真任务进行动态调度，当满足停止条件时根据仿真结果得到最终的参数成品率估计值。与传统方法相比，本发明可以明显减少获得准确参数成品率估计所需的电路仿真。

主权项

1.一种基于仿真数据相关性的集成电路参数成品率快速分析方法，其特征在于，其包括，在集成电路的设计和验证阶段，利用由工艺参数波动导致的性能波动在不同工作条件下的相关性，基于部分电路样品的仿真结果建立的相关性模型，根据给定的设计需求和部分仿真结果对后续电路样品的合格概率进行估计，并据此结果与电路仿真次序上的依赖关系和仿真成本对其后的电路仿真任务进行动态调度，达到准确估计参数成品率的同时节省电路仿真成本；所述的工作条件包括：温度、电源电压和电路负载。