[发明专利]信息校验方法及装置有效
| 申请号： | 201611132120.2 | 申请日： | 2016-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN108616410B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 何兴洋 | 申请（专利权）人： | 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26;G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 阚梓瑄;王卫忠 |
| 地址： | 100195 北京市海淀区杏石口路6*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种信息校验方法及装置。该信息校验方法包括：接收待校验数据并将所述待校验数据按预设比例分配至一并行校验组件以及一串行校验组件；其中，所述并行校验组件包括并行的多个校验单元，所述串行校验组件包括串行的多个校验单元；通过所述并行校验组件对分配的所述待校验数据进行校验以输出第一校验结果以及确定所述并行校验组件中的各所述校验单元的校验优先级信息；接收所述校验单元的校验优先级信息并根据各所述校验单元的校验优先级信息调整所述串行校验组件中各所述校验单元的执行顺序；通过调整顺序后的所述串行校验组件对分配的所述待校验数据进行校验以输出第二校验结果。本公开能够提高校验效率，并且提高系统资源利用率。 | ||
| 搜索关键词： | 信息 校验 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种信息校验方法，其特征在于，包括：接收待校验数据并将所述待校验数据按预设比例分配至一并行校验组件以及一串行校验组件；其中，所述并行校验组件包括并行的多个校验单元，所述串行校验组件包括串行的多个校验单元；通过所述并行校验组件对分配的所述待校验数据进行校验以输出第一校验结果以及确定所述并行校验组件中的各所述校验单元的校验优先级信息；接收所述校验单元的校验优先级信息并根据各所述校验单元的校验优先级信息调整所述串行校验组件中各所述校验单元的执行顺序；通过调整顺序后的所述串行校验组件对分配的所述待校验数据进行校验以输出第二校验结果。
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