[发明专利]一种裂缝型储集层孔隙结构定量评价方法有效
申请号: | 201611128885.9 | 申请日: | 2016-12-09 |
公开(公告)号: | CN106777649B | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
发明(设计)人: | 邱细斌;肖亮 | 申请(专利权)人: | 博明(北京)能源技术有限公司;中国地质大学(北京) |
主分类号: | G06F30/13 | 分类号: | G06F30/13;G06F30/20 |
代理公司: | 北京兴智翔达知识产权代理有限公司 11768 | 代理人: | 蒋常雪 |
地址: | 100086 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种裂缝型储集层孔隙结构定量评价方法,步骤为:利用微电阻率扫描成像测井仪器采集数据,并对采集的数据进行处理,得到反映储集层基质和裂缝孔隙度发育情况的孔隙度频率谱;通过对常规的孔隙度测井资料进行处理,计算储集层孔隙度曲线,并利用计算得到的孔隙度曲线将储集层划分为三种不同类型;针对三种不同类型的储集层,在大孔隙部分和小孔隙部分,分别采用分段幂函数刻度方法,将孔隙度频率谱转化为储集层孔喉半径分布谱;根据毛管压力与孔喉半径之间的关系,将孔喉半径分布谱转化为伪毛管压力曲线;根据构造的伪毛管压力曲线和孔喉半径分布谱,计算储集层孔隙结构评价参数,实现定量评价裂缝型储集层孔隙结构。 | ||
搜索关键词: | 一种 裂缝 型储集层 孔隙 结构 定量 评价 方法 | ||
【主权项】:
一种裂缝型储集层孔隙结构定量评价方法,其特征在于,所述定量评价方法包括以下步骤:1)利用微电阻率扫描成像测井仪器采集数据,并对采集的数据进行处理,得到反映储集层基质和裂缝孔隙度发育情况的孔隙度频率谱;2)通过对常规的孔隙度测井资料进行处理,计算储集层孔隙度曲线,并利用计算得到的孔隙度曲线将储集层划分为三种不同类型;3)针对三种不同类型的储集层,在大孔隙部分和小孔隙部分,分别采用分段幂函数刻度方法,将孔隙度频率谱转化为储集层孔喉半径分布谱;4)根据毛管压力与孔喉半径之间的关系,将孔喉半径分布谱转化为伪毛管压力曲线;5)根据构造的伪毛管压力曲线和孔喉半径分布谱,计算储集层孔隙结构评价参数,实现定量评价裂缝型储集层孔隙结构。
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