[发明专利]紫外发光二极管器件的制备方法在审

专利信息
申请号: 201611114395.3 申请日: 2016-12-06
公开(公告)号: CN106784180A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 闫建昌;孙莉莉;张韵;王军喜;李晋闽 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/12
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种紫外发光二极管器件的制备方法,包括如下步骤在衬底上生长含In或含Ga的AlN低温成核层;在低温成核层上生长AlN高温缓冲层;在AlN高温缓冲层上依次生长N型AlxGa1‑xN电极接触层、AlxGa1‑xN量子阱层、AlxGal‑xN电子阻挡层、P型AlxGal‑xN层和P型InxGal‑xN电极接触层;在P型InxGal‑xN电极接触层的上面向下依次刻蚀,暴露出N型AlxGa1‑xN电极接触层,在N型AlxGa1‑xN电极接触层上的一侧形成LED芯片PN结的台面;在台面上制备n型接触电极;在P型InxGa1‑xN电极接触层上制备p型接触电极。本发明可以提高UV‑LED发光效率,消除了光刻和刻蚀工艺可能会对设备造成的污染,并降低器件的加工成本。
搜索关键词: 紫外 发光二极管 器件 制备 方法
【主权项】:
一种紫外发光二极管器件的制备方法,包括如下步骤:步骤1:在衬底上生长含In或含Ga的AlN低温成核层;步骤2:在低温成核层上生长AlN高温缓冲层,高温过程中In和Ga析出、蒸发,使低温成核层自组装形成空气隙;步骤3:在AlN高温缓冲层上依次生长N型AlxGa1‑xN电极接触层、AlxGa1‑xN量子阱层、AlxGa1‑xN电子阻挡层、P型AlxGa1‑xN层和P型InxGa1‑xN电极接触层;步骤4:在P型InxGa1‑xN电极接触层的上面向下依次刻蚀P型InxGa1‑xN电极接触层、P型AlxGa1‑xN层、AlxGa1‑xN电子阻挡层和AlxGa1‑xN量子阱层,暴露出N型AlxGa1‑xN电极接触层,在N型AlxGa1‑xN电极接触层上的一侧形成LED芯片PN结的台面;步骤5:在N型AlxGa1‑xN电极接触层一侧的台面上制备n型接触电极;步骤6:在P型InxGa1‑xN电极接触层上制备p型接触电极,完成制备。
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