[发明专利]一种非接触智能卡测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 201611100535.1 | 申请日： | 2016-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN106646039B | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | 王丰;刘丽丽 | 申请（专利权）人： | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102209 北京市昌平区北七家未*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及测试验证领域，针对实际应用中非接触智能卡与非接触读卡器通信过程中，易受到外界噪声干扰导致智能卡接收数据异常、通信失败的现象，提出了一种非接触智能卡测试装置及测试方法，该非接触智能卡测试装置包括：嵌入式处理器，读卡器模块，噪声生成模块，测试方法包括在读卡器发送正确数据的各个阶段加入噪声干扰，并测试非接触智能卡的抗干扰能力。在目前对于非接触智能卡性能要求越来越严苛的背景下，提高了非接触智能卡性能测试全面性。 | ||
| 搜索关键词： | 非接触智能卡 测试 测试装置 智能卡 嵌入式处理器 读卡器模块 抗干扰能力 接收数据 通信过程 通信失败 外界噪声 性能测试 性能要求 噪声干扰 噪声生成 正确数据 读卡器 全面性 卡器 与非 验证 发送 应用 | ||
【主权项】：
1.一种非接触智能卡测试装置(1)，其特征在于，包括：嵌入式处理器(2)、噪声生成模块(3)和非接触读卡器模块(4)；其中，嵌入式处理器(2)与噪声生成模块(3)相连，噪声生成模块(3)与非接触读卡器模块(4)相连，非接触读卡器模块(4)与嵌入式处理器(2)相连；非接触读卡器模块(4)通过嵌入式处理器(2)配置为正常传输和噪声传输两种模式；当非接触读卡器模块(4)通过嵌入式处理器(2)配置为正常传输模式时，非接触读卡器模块(4)向被测非接触智能卡发送正常数据,在发送正常数据后，嵌入式处理器(2)配置非接触读卡器模块(4)为噪声传输模式，并配置噪声模式参数，同时嵌入式处理器(2)控制噪声生成 模块(3)开始输出噪声，该噪声信号通过非接触读卡器模块(4)调制后发送给被测非接触智能卡。
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