[发明专利]电子器件大气中子单粒子效应预测方法及装置

摘要

本发明涉及一种电子器件大气中子单粒子效应预测方法及装置，只需建立待检测电子器件的三维模型，通过将大气中子入射至待检测电子器件的三维模型进行单粒子效应仿真实验即可获取到核反应产物在灵敏区的沉积能量，根据灵敏区的沉积能量获取核反应产物效应数量，根据核反应产物效应数量以及参考单位时间获取预测结果，整个单粒子效应检测过程无需使用实测实验，即无需花费大量时间进行实测实验可实现检测，提高检测效率，且无需利用大气中子地面加速实验装置即可实现单粒子效应检测，即无需花费大量成本即可实现检测，成本低。

主权项

一种电子器件大气中子单粒子效应预测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待检测电子器件所处环境的大气中子谱以及所述大气中子谱的参考单位时间；建立所述待检测电子器件的三维模型，其中，所述待检测电子器件的三维模型中包括灵敏区以及所述灵敏区的临界电荷；根据所述大气中子谱对应的大气中子对所述待检测器件的三维模型进行仿真实验，获取所述大气中子入射至所述待检测电子器件的三维模型，在所述待检测电子器件的三维模型中产生的核反应产物以及所述核反应产物在所述灵敏区中的沉积能量；根据所述沉积能量以及所述灵敏区的临界电荷，获取所述核反应产物中所述沉积能量大于所述临界电荷的核反应产物效应数量，其中，单个所述核反应产物在所述灵敏区中的沉积能量大于所述临界电荷对应一次单粒子效应；根据所述参考时间单位以及所述核反应产物效应数量，获取每所述参考单位时间内所述待检测电子器件发生单粒子效应的次数，并将每所述参考单位时间内所述待检测电子器件发生单粒子效应的次数作为所述待检测电子器件单粒子效应的预测结果；根据所述预测结果，确定所述待检测电子器件的安全等级。