[发明专利]一种热释电弛豫单晶超薄灵敏芯片及其制备方法有效
申请号: | 201611079479.8 | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN106784290B | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 李龙 | 申请(专利权)人: | 北立传感器技术(武汉)有限公司 |
主分类号: | H01L37/00 | 分类号: | H01L37/00;H01L37/02 |
代理公司: | 武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙) 42251 | 代理人: | 尹伟 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东西*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及一种热释电弛豫单晶超薄灵敏芯片及其制备方法,其制备方法包括:对单晶片的正反面进行研磨与化学机械抛光,再在研磨与化学机械抛光后的所述单晶片正反面真空蒸镀金属膜层;制备黑化物,将所述黑化物喷涂在镀膜后的所述单晶片反面,并在所述单晶片反面形成掩膜黑化层。本发明的一种热释电弛豫单晶超薄灵敏芯片的制备方法,采用新型化学机械研磨与抛光技术,真空蒸镀金属膜层以及超声喷涂聚合物掩膜黑化层技术的方式,达到大尺寸热释电单晶材料的有效减薄,保证金属镀膜层的牢固度,以及黑化吸收层的均匀性、高附着力和高红外吸收率,为批量化制作高性能、高均匀性新型热释电弛豫铁电单晶灵敏芯片提供了新的方向。 | ||
搜索关键词: | 一种 热释电弛豫单晶 超薄 灵敏 芯片 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种热释电弛豫单晶超薄灵敏芯片的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:对单晶片的正反面进行研磨与化学机械抛光,再在研磨与化学机械抛光后的所述单晶片真反面真空蒸镀金属膜层;步骤2:制备黑化物,将所述黑化物喷涂在镀膜后的所述单晶片反面,并在所述单晶片反面形成掩膜黑化层。
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