[发明专利]大口径高分辨白天成像光学系统有效

专利信息
申请号: 201611070262.0 申请日: 2016-11-29
公开(公告)号: CN106526800B 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 明名;吕天宇;徐伟;王洪浩;郝亮 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;中国科学院大学
主分类号: G02B13/00 分类号: G02B13/00;G02B23/02
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙) 22210 代理人: 朱红玲
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 大口径高分辨白天成像光学系统,涉及大口径高分辨成像探测领域,解决现有光学成像系统存在的对工作时间要求苛刻,白天无法成像,成像分辨力低以及无法机动布站等问题,包括位于同一光轴上的主光学系统、中继光学系统、倾斜校正光学系统和高分辨力力成像光学系统,目标光线首先经过主光学系统后,进入中继光学系统,然后通过分色镜进行光谱分光,反射短波红外波段,进入倾斜校正光学系统,进行白天目标的精密跟踪和大气倾斜校正;透射可见光近红外波段,分配给高分辨力成像光学系统,在白天对目标进行高分辨力成像。本发明系统能在白天的强光背景下对目标进行精密跟踪和高分辨力成像,实现了光学成像系统的全天时功能。
搜索关键词: 光学系统 高分辨力成像 倾斜校正 大口径 高分辨 光学成像系统 中继光学系统 主光学系统 白天成像 精密 短波红外波段 成像分辨力 高分辨成像 近红外波段 透射可见光 光谱分光 目标光线 强光背景 时间要求 同一光轴 分色镜 力成像 全天时 跟踪 反射 成像 探测 分配
【主权项】:
1.大口径高分辨白天成像光学系统,包括主光学系统、中继光学系统、倾斜校正光学系统和双通道高分辨力成像光学系统;其特征是:所述中继光学系统包括平面反射镜B(7)、准直透镜A(8)、准直透镜B(9)、平面反射镜C(10)、分色镜(11);来自主光学系统第一像面(6)的光束经平面反射镜B(7)反射后,被准直透镜A(8)和准直透镜B(9)准直为平行光束,经平面反射镜C(10)反射后由分色镜(11)进行光谱分光,波段为900nm~1700nm的光束反射进入倾斜校正光学系统,波段为700nm~900nm的光束透射后经平面反射镜D(15)反射,进入双通道高分辨力成像光学系统;所述倾斜校正光学系统包括校正透镜A(12)、校正透镜B(13)和短波红外高速探测器(14);由中继光学系统反射的光束透过校正透镜A(12)、校正透镜B(13),成像在短波红外高速探测器(14)上;所述双通道高分辨力成像光学系统包括平面反射镜D(15)、成像透镜A(16)、成像透镜B(17)、平面反射镜E(18)、平面反射镜F(19)、平面反射镜G(20)、平面反射镜H(21)、分光镜(22)、平面反射镜I(23)、成像探测器A(24)和成像探测器B(25),由分色镜(11)透射的光束经平面反射镜D(15)反射后,透过成像透镜A(16)、成像透镜B(17),依次经平面反射镜E(18)、平面反射镜F(19)、平面反射镜G(20)、平面反射镜H(21)反射后,由分光镜(22)进行能量分光,分别成像在成像探测器A(24)和成像探测器B(25)上;所述短波红外高速探测器(14)的靶面位于所述校正透镜A(12)、校正透镜B(13)的焦面上,所述校正透镜A(12)和校正透镜B(13)为球面透镜;所述成像透镜A(16)和成像透镜B(17)均为球面透镜;所述短波红外高速探测器(14)为高灵敏度电荷耦合器件、增强型电荷耦合器件或电子倍增电荷耦合器件,所述短波红外高速探测器(14)的靶面大小与所述倾斜校正光学系统的像面大小相匹配。
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