[发明专利]X射线测定装置有效
| 申请号： | 201611048826.0 | 申请日： | 2016-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN106798565B | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 实政光久;宫本高敬;足立龙太郎;川上嘉人 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;王立杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种X射线测定装置。从X射线照射器(30)对多个检测元件(32a)照射扇束形状的X射线。根据各检测元件(32a)检测出的各检测数据即X射线的衰减量来计算各被检测体部分(22a)的面密度。另外，根据各检测数据计算各被检测体部分(22a)的体厚。根据计算出的体厚在各被检测体部分(22a)的体厚方向的中心位置定义虚拟测定面。将各被检测体部分(22a)的面密度与在各被检测体部分(22a)中定义的各虚拟测定面的面积相乘，计算表示各被检测体部分(22a)的质量的多个元件单位质量。通过合计多个元件单位质量来计算被检测体(22)的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 测定 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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