[发明专利]一种扰动测量成像系统有效
申请号: | 201611046361.5 | 申请日: | 2016-11-22 |
公开(公告)号: | CN106791803B | 公开(公告)日: | 2018-09-18 |
发明(设计)人: | 于飞;黄刚;梅强;李超;贺勍;张晗;王劲强;谢妮慧 | 申请(专利权)人: | 北京空间机电研究所 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 100076 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种扰动测量成像系统,包括成像焦面模块、焦面控制模块、图像数据读取模块、扰动测量模块、图像处理模块、图像输出模块、高速存储模块、接口模块;接口模块接收成像控制信息、数据输出指令,焦面控制模块进行解析计算,得到焦面时序控制信号,成像焦面模块进行成像并输出成像数据,图像数据读取模块采用乒乓缓冲存储成像数据至高速存储模块,扰动测量模块对成像数据进行扰动测量计算,图像处理模块使用扰动测量结果对成像数据进行处理,图像输出模块根据数据输出指令将成像数据处理结果输出,或者从高速存储模块读取成像数据并输出。 | ||
搜索关键词: | 一种 扰动 测量 成像 系统 | ||
【主权项】:
1.一种扰动测量成像系统,其特征在于包括成像焦面模块、焦面控制模块、图像数据读取模块、扰动测量模块、图像处理模块、图像输出模块、高速存储模块、接口模块,其中,接口模块,接收外部发送的成像控制信息后送至焦面控制模块,成像控制信息包括帧频、积分时间;接收外部发送的数据输出指令后转发至图像输出模块;所述的数据输出指令为控制图像输出模块输出成像数据或者成像数据处理结果的指令;焦面控制模块,对成像控制信息进行解析计算,得到焦面时序控制信号并送至成像焦面模块,焦面时序控制信号包括时钟、采样周期、积分时间;成像焦面模块,根据焦面时序控制信号成像并输出成像数据至图像数据读取模块;图像数据读取模块,采用乒乓缓冲存储成像数据至高速存储模块,同时送至扰动测量模块;高速存储模块,存储成像数据;扰动测量模块,对成像数据进行扰动测量计算,包括:对成像数据进行二维FFT,得到二维FFT的结果矩阵,对结果矩阵中每个元素和参考图像FFT结果矩阵中同样位置的元素进行共轭相乘,得到共轭相乘结果,对共轭相乘结果进行FFT逆变换,得到FFT逆变换结果矩阵,对FFT逆变换结果矩阵中各个元素取模,得到代表匹配程度大小的像移匹配参数构成的像移匹配参数矩阵,寻找像移匹配参数矩阵中的最大元素值,根据最大元素值对应坐标得到扰动测量结果,并送至图像处理模块;所述的参考图像FFT结果矩阵为上一次二维FFT的结果矩阵,当成像数据为首帧图像数据时,不进行扰动测量;图像处理模块,读取高速存储模块存储的成像数据,使用扰动测量结果对成像数据进行处理,将成像数据处理结果送至图像输出模块;图像输出模块,接收数据输出指令并根据数据输出指令将成像数据处理结果输出,或者从高速存储模块读取成像数据并输出。
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