[发明专利]基于迹线确定岩体结构面产状的方法有效
| 申请号： | 201611037229.8 | 申请日： | 2016-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN106767672B | 公开（公告）日： | 2019-02-15 |
| 发明（设计）人： | 原先凡;吉云;胡帅;杨威;罗宇 | 申请（专利权）人： | 中国电建集团成都勘测设计研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人： | 许泽伟 |
| 地址： | 610072 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于迹线确定岩体结构面产状的方法，属于岩体测量技术领域，提供新的基于迹线确定岩体结构面产状的方法，尤其适用于开挖方向与结构面走向呈小角度相交的岩体开挖工程。本发明所述基于迹线确定岩体结构面产状的方法，无需使用地质罗盘，因此能够很好地应用于岩体开挖过程中岩体结构面出露面积小、罗盘无法紧贴结构面进行测量的情况，同时，本发明所述的方法也不会受到磁场干扰；因此可获得准确的结构面产状信息。 | ||
| 搜索关键词： | 岩体结构面 产状 迹线 岩体开挖 结构面 罗盘 测量技术领域 结构面产状 磁场干扰 岩体 紧贴 相交 开挖 测量 地质 应用 | ||
【主权项】：
1.基于迹线确定岩体结构面产状的方法，该基于迹线确定岩体结构面产状的方法是针对岩体结构面走向与开挖方向相交角度为0～30°的开挖工程；其特征在于：包括对岩体结构面走向的测量方法，所述岩体结构面走向的测量方法包括如下步骤：A、在开挖过程中，选取其中一开挖面作为第一开挖平面(1)，在第一开挖平面(1)中选取其中一岩体结构面作为测量结构面(2)，所述测量结构面(2)与第一开挖平面(1)形成的交线为第一交线(3)，在第一交线(3)上选取第一测量点A；选取一与开挖方向平行的竖平面作为参照面(4)；测量所述第一测量点A的高程H1和第一测量点A至参照面(4)的水平距离L1；B、沿开挖方向继续开挖一定距离ΔL后将对应的开挖面作为第二开挖平面(5)，所述测量结构面(2)与第二开挖平面(5)形成的交线为第二交线(6)，取第二交线(6)上高程为H1所对应的点为第二测量点B；测量所述第二测量点B至参照面(4)的水平距离L2；C、取α为岩体结构面走向与开挖方向之间的夹角，并且有：![]()
D、根据开挖方向以及上述夹角α，得到岩体结构面的走向。
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