[发明专利]一种测量脉冲离子束脉冲宽度的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201611025682.7 申请日: 2016-11-21
公开(公告)号: CN108089064B 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 陈平;李海洋;蒋吉春 申请(专利权)人: 中国科学院大连化学物理研究所
主分类号: G01R29/02 分类号: G01R29/02
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 马驰
地址: 116023 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 专利提出一种测量脉冲离子束脉冲宽度的装置及方法。它测量的原理是:将一次离子源产生的脉冲离子束经过偏转板调制后轰击到样品靶后,收集产生的二次离子后进入后端质谱进行检测。二次离子强度变化可以实时反映一次离子束强度的变化。在偏转电极的一个电极上施加固定电位,另一个电极上施加脉冲电压。当两个电极为相等电位时,离子束正常通过偏转电极轰击到靶上产生二次离子流;当两个电极电位不等时,离子束受到电场的偏转而无法通过偏转电极,无法轰击到靶上。通过改变离子偏转电极施加脉冲高压的时间,可以在收集并检测不同时刻对应的二次离子流强度,即实现脉冲离子束的时间分布及脉宽的测量。
搜索关键词: 一种 测量 脉冲 离子束 脉冲宽度 装置 方法
【主权项】:
1.一种测量脉冲离子束脉冲宽度的装置,其所述装置的特征在于:沿脉冲离子束(1)轴线方向上设置有偏转电极(2),偏转电极(2)的两个极片沿脉冲离子束(1)轴线两侧呈对称分布,沿脉冲离子束(1)轴线的延长线方向上设置有转换靶(3),沿转换靶(3)的法线方向设置有离子检测装置(4)。
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