[发明专利]一种雷达恒虚警检测门限自适应设置方法有效
申请号: | 201611013400.1 | 申请日: | 2016-11-18 |
公开(公告)号: | CN106501788B | 公开(公告)日: | 2018-10-23 |
发明(设计)人: | 蔡兴雨;朱思桥;任伦 | 申请(专利权)人: | 西安电子工程研究所 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 刘新琼 |
地址: | 710100 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及一种雷达恒虚警检测门限自适应设置方法,该方法可对不同区域设置不同的检测门限系数,从而在强杂波区域设置较高的检测门限,已达到降低虚警的目的,同时在弱杂波区域设置较低的检测门限,以提高该区域的检测概率。从雷达整个检测区域考虑,雷达的检测性能得到较大改善。 | ||
搜索关键词: | 一种 雷达 恒虚警 检测 门限 自适应 设置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种雷达恒虚警检测门限自适应设置方法,其特征在于步骤如下:步骤1:将雷达探测区域划分为若干个子区域;步骤2:对子区域进行量化,量化时可采用计算子区域的水平投影面积或者空间体积;步骤3:计算各子区域内的点迹密度L,计算时使用子区域点数除以该子区域对应的量化值;步骤4:设置点迹密度门限上限M,设置点迹密度门限下限N,其中M≥N;所述点迹密度门限上限为根据雷达虚警概率计算出最大点迹数量,然后用雷达虚警概率计算出最大点迹数量除以整个检测区域的量化值;所述的点迹密度门限下限为降低雷达虚警概率,根据降低后的虚警概率计算出最大点迹数量,然后用降低后的虚警概率计算出最大点迹数量除以整个检测区域的量化值;步骤5:将各子区域内的点迹密度L与点迹密度门限值进行比较:当L≥M,则增大该区域内恒虚警检测门限系数c,提高恒虚警检测门限;当L≤N,则减小该区域内恒虚警检测门限系数c;步骤6:设置最大恒虚警门限系数值cmax,当恒虚警门限系数值大于等于cmax时,不再增加;设置最小恒虚警门限系数值cmin,当恒虚警门限系数值小于等于cmin时,不再减小。
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