[发明专利]一种无补偿装置的非制冷红外测温仪的测温方法有效

专利信息
申请号: 201611011685.5 申请日: 2016-11-17
公开(公告)号: CN106768347B 公开(公告)日: 2019-03-05
发明(设计)人: 梁锡宁;毛义伟 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 王鲜凯
地址: 471099 *** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明涉及一种无补偿装置的非制冷红外测温仪的测温方法,首先采样探测器焦平面的温度数据TFPA、环境温度数据TENV和探测器在不同辐射温度下的灰度值数据GT,其次通过大数据分析建立有效的数学模型,最后经过计算与修正得到被测物体的表面温度的数学公式,即TOBJ=f(TFPA,TENV,GT)。本发明不仅解决了当前红外测温仪实际使用中需要测温补偿装置的实际问题,而且提高了测温的实时性和准确度。本发明综合考虑到了影响对探测器测温影响比较大的工作环境温度、焦平面温度因素,利用数据分析,最终得到拟合公式Tbody=f(TENV,TFPA,GT),可以有效提高测温的准确性并且不受测温范围影响。
搜索关键词: 测温 红外测温 非制冷 焦平面 无补偿 探测器 环境温度数据 采样探测器 红外测温仪 灰度值数据 被测物体 补偿装置 拟合公式 实际问题 数据分析 数学公式 数学模型 温度数据 温度因素 综合考虑 准确度 大数据 实时性 修正 辐射 分析
【主权项】:
1.一种无补偿装置的非制冷红外测温仪的测温方法,其特征在于步骤如下:步骤1:将非制冷红外测温仪上电,设定高低温试验箱的环境温度TENV;步骤2:当探测器焦平面温度处于稳定状态时采集该时刻的探测器焦平面温度数据TFPA、黑体的辐射温度TBLACK、红外热像仪的平均灰度数据GT,得到一组四维数据(TENV,TBLACK,TFPA,GT);步骤3:等梯度改变设定的环境温度TENV,使探测器焦平面温度等梯度改变ΔT度,等待焦平面温度稳定后重复步骤2,得到多个等梯度改变后的若干组四维数据(TENV,TBLACK,TFPA,GT);所述改变是:当设定的环境温度TENV为高温时,改变为降低温度;当设定的环境温度TENV为低温时,改变为升高温度;步骤4:将若干组数据拟合得到观察曲面规律,采用二次线性拟合建立测温数学模型,得到待测物体温度Tbody=f(TENV,TFPA,GT)曲面计算公式;步骤5:将四维数据的曲面拟合公式输入至红外热像仪,计算每个像素点的红外测温数据。
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