[发明专利]一种射频发射通道故障管理方法及射频模块在审
| 申请号： | 201610991235.0 | 申请日： | 2016-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN106571881A | 公开（公告）日： | 2017-04-19 |
| 发明（设计）人： | 刘伟 | 申请（专利权）人： | 上海华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/17 | 分类号： | H04B17/17 |
| 代理公司： | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙)44285 | 代理人： | 聂秀娜 |
| 地址： | 201206 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种射频发射通道故障管理方法及射频模块，该方法应用于射频模块，射频模块包括主控单元和至少一个射频芯片，每个射频芯片内置内建自测试BIST电路，方法包括BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或射频芯片所在的发射通道进行故障检测；当检测到BIST电路所在的射频芯片和/或发射通道故障时，BIST电路向主控单元通知射频芯片的故障信息，使得主控单元对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离；当故障的射频芯片的故障信息满足预设故障上报条件时，主控单元将故障的射频芯片和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。通过采用本方案，能够精确的定位到故障的芯片，且对故障的芯片进行隔离操作，不在用户端体现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 发射 通道 故障 管理 方法 模块 | ||
【主权项】：
一种射频发射通道故障管理方法，其特征在于，所述方法应用于射频模块，所述射频模块包括主控单元和至少一个射频芯片，每个射频芯片内置内建自测试BIST电路，所述方法包括：BIST电路对BIST电路所在的射频芯片和/或所述射频芯片所在的发射通道进行故障检测；当检测到所述BIST电路所在的所述射频芯片故障和/或所述射频芯片所在的发射通道故障时，所述BIST电路向所述主控单元通知所述射频芯片的故障信息，使得所述主控单元对故障的射频芯片和/或故障的发射通道进行隔离；当故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息满足预设故障上报条件时，所述主控单元将故障的射频芯片的故障信息和/或故障的发射通道的故障信息上报给用户。
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